鍍層測厚儀采用X射線熒光的工作原理是，X 射線管產(chǎn)生初級射線照射在受檢物質時，會激發(fā)物質放射X－射線螢光輻射，特定的元素有特定的輻射信號，接收器便會記錄這些能量光譜。不需要先對樣品進行處理便能測量，樣品可直接放入測量室進行測量。鍍層測厚儀由于可測量的元素范圍從鋁至鈾，X射線的應用范圍從工業(yè)應用伸展到科學應用。鍍層測厚儀可應用于治金學、地質學、鑒證學或自然科學等，在工業(yè)方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測量方面。

　　鍍層測厚儀的測量原理：

　　鍍層測厚儀采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。鍍層測厚儀也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。

　　用鍍層測厚儀時，測量準確需具備什么條件?具體如下：

　　1.基體金屬特性

　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。

　　2.基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用方法進行校準。

　　3.表面清潔度。鍍層測厚儀測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質。

　　4.邊緣效應。不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

　　5.曲率。不應在試件的彎曲表面上測量。

　　6.讀數(shù)次數(shù)。通常由于鍍層測厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。